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第二十六屆集成電路物理和失效分析會議（IPFA 2019）將于 2019 年 7 月 2 日 - 5 日在杭州盛大舉行。作為亞洲的集成電路失效分析和可靠性會議，每年都有專業人士、學術研究者、供應商等聚集在一起分享技術更新。

屆時，飛納電鏡獎攜臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 出席本次會議！

時間：2019 年 7 月 2 日 - 5 日

地點：杭州君悅酒店

飛納電鏡展位號：34 號

Ball bonding 工藝檢查

飛納電鏡彩色光學導航窗口 + 低倍 SEM 導航窗口 + 自動馬達臺，幫助用戶一鍵找到感興趣位置，丟失視野。

通過飛納電鏡優中心樣品杯，多角度檢測 Bonding 質量

焊點 0 度角傾斜

焊點 45 度角傾斜

焊點 90 度角傾斜

孔徑統計分析測量系統 —— IC 芯片

結合飛納電鏡的孔徑統計分析測量系統，對 IC 芯片的孔洞自動測量，簡單地進行整體性的綜合評價。

IC 芯片掃描電鏡圖像

光刻膠圖形檢查

MEMS 器件表面形貌觀察

飛納在半導體行業中的部分用戶